靜態(tài)數(shù)據(jù)處理中不合格基線和閉合環(huán)的處理

在【測量】選項下有個【搜索重復(fù)基線與閉合環(huán)】菜單，點擊后會出現(xiàn)閉合環(huán)邊數(shù)的 設(shè)置窗口，如下圖。閉合環(huán)的最小邊數(shù)為3，最大為15，默認都為 3。可根據(jù)實際需求適當設(shè)置邊數(shù)，當測站數(shù)量，基線數(shù)量較多時，建議將邊數(shù)適當調(diào)小。設(shè)置完點確定后，開始搜索閉合環(huán)與重復(fù)基線。

在工程管理區(qū)中選中解算不合格的基線，可查看相應(yīng)基線的解算報告。選中基線后，屬性管理器中會顯示相應(yīng)基線的解算參數(shù)，通過修改解算參數(shù)（采樣間隔、高度截止角、 解算類型）、根據(jù)殘差圖再次剔除不合格的數(shù)據(jù)，重新解算，可使大部分的基線解算合格。

2.1 解算參數(shù)的修改

（1）采樣間隔的選取

采樣間隔的大小決定了參與解算的歷元的多少，采樣間隔越小，參與解算的歷元越多，采樣間隔越大，參與解算的歷元越多。因為基線越長，所需的觀測時間也越長，所以采樣間隔的選取一般依據(jù)以下三個原則。

①基線同步觀測時間較短時，可縮小采樣間隔，讓更多的數(shù)據(jù)參與解算；

②同步觀測時間較長時，要增加歷元間隔，讓更少的數(shù)據(jù)參與解算；

③數(shù)據(jù)周跳較多時，要增加采樣間隔，這樣可跳過中斷的數(shù)據(jù)繼續(xù)解算。

（2）高度截止角的選取

當高度截止角較低時，參與解算的衛(wèi)星數(shù)目多，但低空衛(wèi)星數(shù)據(jù)通訊容易被外界干擾，低空衛(wèi)星質(zhì)量差的數(shù)據(jù)較多；當高度截止角較高時，參與解算的衛(wèi)星數(shù)目少，但高空衛(wèi)星數(shù)據(jù)通訊不容易被外界干擾，高空衛(wèi)星質(zhì)量好的數(shù)據(jù)較多；然而高度截至角過高會導(dǎo)致衛(wèi)星星座圖形的幾何分布狀況不佳，定位解算精度反而下降。高度截止角的選取遵循以下兩個原則：

①當基線詳解中查看到的衛(wèi)星數(shù)目足夠多，適當增加高度截止角，盡量讓高空衛(wèi)星數(shù)據(jù)進入解算；

②當基線詳解中查看到衛(wèi)星數(shù)目比較少時（最低解算要求4顆以上衛(wèi)星），適當降低高度截止角，盡量讓多一些衛(wèi)星數(shù)據(jù)進入解算；

③高度截至角不宜過高。

（3）解算類型的選取

根據(jù)波段的接收情況選取。

2.2 通過殘差分析篩選數(shù)據(jù)

所謂殘差圖就是根據(jù)觀測值的殘差繪制的一種圖表。根據(jù)殘差分析圖，可判斷影響基線解算結(jié)果的數(shù)據(jù)（質(zhì)量不好的數(shù)據(jù)），存在于哪顆衛(wèi)星或時間段上。鼠標左鍵選中不合格的基線，單擊右鍵，選擇殘差分析，即可進入殘差分析界面。殘差分析圖，如下圖所示。

上圖是 GPS 衛(wèi)星 06 的殘差圖。殘差分析圖是一種正態(tài)分布圖，其期望應(yīng)在橫軸附近，大致受隨機噪聲與其他因素誤差影響而波動，其橫軸表示數(shù)據(jù)采集時間，縱軸表示觀測值的殘差。殘差偏大，說明信號傳播過程中受到的各方面誤差影響較大，主要包含多路徑效應(yīng)、對流層或電離層折射影響等因素，如果殘差圖發(fā)生跳躍性的變化，說明觀測中還存在周跳因素?？梢詫Σ缓细竦臄?shù)據(jù)進行剔除，或取不同解算參數(shù)的手段進行精化處理。在使用剔除不合格的數(shù)據(jù)、反復(fù)組合高度截止角、采樣間隔、解算類型等手段后仍不 能使基線解算合格的情況下，可刪除該條基線（獨立基線除外，且刪除的基線條數(shù)不能大于總基線的 1/10）。若基線無法刪除，需重測。

待基線解算合格后，點擊工具欄中的【閉合環(huán)列表】，檢查閉合環(huán)的閉合情況，閉合環(huán)列表界面下圖所示：

閉合差如果超限，需根據(jù)基線解算以及閉合差計算的具體情況，對一些基線進行重新解算。具有多次觀測基線的情況下可以不使用或者刪除該基線。當出現(xiàn)孤點（即該點僅有一條合格基線相連）的情況下，必須重測該基線或者閉合環(huán)。