靜態(tài)數(shù)據(jù)處理中不合格基線和閉合環(huán)的處理RTK控制測(cè)量分為外業(yè)靜態(tài)機(jī)采集數(shù)據(jù)和內(nèi)業(yè)數(shù)據(jù)處理兩個(gè)部分，外業(yè)采集通常要考慮外部環(huán)境好的條件，這樣采集到的數(shù)據(jù)質(zhì)量有保證，但是也不排除條件不好的情況，比如有遮擋或者多路勁效應(yīng)等等，采集的數(shù)據(jù)會(huì)有誤差，這樣的數(shù)據(jù)內(nèi)業(yè)處理會(huì)有一定的問(wèn)題，比如基線不合格，閉合環(huán)誤差過(guò)大。我們可以通過(guò)軟件的設(shè)置等等方法來(lái)解決這些問(wèn)題。 搜索閉合環(huán) 在【測(cè)量】選項(xiàng)下有個(gè)【搜索重復(fù)基線與閉合環(huán)】菜單，點(diǎn)擊后會(huì)出現(xiàn)閉合環(huán)邊數(shù)的 設(shè)置窗口，如下圖。閉合環(huán)的最小邊數(shù)為3，最大為15，默認(rèn)都為 3?？筛鶕?jù)實(shí)際需求適當(dāng)設(shè)置邊數(shù)，當(dāng)測(cè)站數(shù)量，基線數(shù)量較多時(shí)，建議將邊數(shù)適當(dāng)調(diào)小。設(shè)置完點(diǎn)確定后，開(kāi)始搜索閉合環(huán)與重復(fù)基線。
處理不合格的基線 在工程管理區(qū)中選中解算不合格的基線，可查看相應(yīng)基線的解算報(bào)告。選中基線后，屬性管理器中會(huì)顯示相應(yīng)基線的解算參數(shù)，通過(guò)修改解算參數(shù)（采樣間隔、高度截止角、 解算類(lèi)型）、根據(jù)殘差圖再次剔除不合格的數(shù)據(jù)，重新解算，可使大部分的基線解算合格。 2.1 解算參數(shù)的修改 （1）采樣間隔的選取 采樣間隔的大小決定了參與解算的歷元的多少，采樣間隔越小，參與解算的歷元越多，采樣間隔越大，參與解算的歷元越多。因?yàn)榛€越長(zhǎng)，所需的觀測(cè)時(shí)間也越長(zhǎng)，所以采樣間隔的選取一般依據(jù)以下三個(gè)原則。 ①基線同步觀測(cè)時(shí)間較短時(shí)，可縮小采樣間隔，讓更多的數(shù)據(jù)參與解算； ②同步觀測(cè)時(shí)間較長(zhǎng)時(shí)，要增加歷元間隔，讓更少的數(shù)據(jù)參與解算； ③數(shù)據(jù)周跳較多時(shí)，要增加采樣間隔，這樣可跳過(guò)中斷的數(shù)據(jù)繼續(xù)解算。 （2）高度截止角的選取 當(dāng)高度截止角較低時(shí)，參與解算的衛(wèi)星數(shù)目多，但低空衛(wèi)星數(shù)據(jù)通訊容易被外界干擾，低空衛(wèi)星質(zhì)量差的數(shù)據(jù)較多；當(dāng)高度截止角較高時(shí)，參與解算的衛(wèi)星數(shù)目少，但高空衛(wèi)星數(shù)據(jù)通訊不容易被外界干擾，高空衛(wèi)星質(zhì)量好的數(shù)據(jù)較多；然而高度截至角過(guò)高會(huì)導(dǎo)致衛(wèi)星星座圖形的幾何分布狀況不佳，定位解算精度反而下降。高度截止角的選取遵循以下兩個(gè)原則： ①當(dāng)基線詳解中查看到的衛(wèi)星數(shù)目足夠多，適當(dāng)增加高度截止角，盡量讓高空衛(wèi)星數(shù)據(jù)進(jìn)入解算； ②當(dāng)基線詳解中查看到衛(wèi)星數(shù)目比較少時(shí)（最低解算要求4顆以上衛(wèi)星），適當(dāng)降低高度截止角，盡量讓多一些衛(wèi)星數(shù)據(jù)進(jìn)入解算； ③高度截至角不宜過(guò)高。 （3）解算類(lèi)型的選取 根據(jù)波段的接收情況選取。 2.2 通過(guò)殘差分析篩選數(shù)據(jù) 所謂殘差圖就是根據(jù)觀測(cè)值的殘差繪制的一種圖表。根據(jù)殘差分析圖，可判斷影響基線解算結(jié)果的數(shù)據(jù)（質(zhì)量不好的數(shù)據(jù)），存在于哪顆衛(wèi)星或時(shí)間段上。鼠標(biāo)左鍵選中不合格的基線，單擊右鍵，選擇殘差分析，即可進(jìn)入殘差分析界面。殘差分析圖，如下圖所示。
上圖是 GPS 衛(wèi)星 06 的殘差圖。殘差分析圖是一種正態(tài)分布圖，其期望應(yīng)在橫軸附近，大致受隨機(jī)噪聲與其他因素誤差影響而波動(dòng)，其橫軸表示數(shù)據(jù)采集時(shí)間，縱軸表示觀測(cè)值的殘差。殘差偏大，說(shuō)明信號(hào)傳播過(guò)程中受到的各方面誤差影響較大，主要包含多路徑效應(yīng)、對(duì)流層或電離層折射影響等因素，如果殘差圖發(fā)生跳躍性的變化，說(shuō)明觀測(cè)中還存在周跳因素?？梢詫?duì)不合格的數(shù)據(jù)進(jìn)行剔除，或取不同解算參數(shù)的手段進(jìn)行精化處理。在使用剔除不合格的數(shù)據(jù)、反復(fù)組合高度截止角、采樣間隔、解算類(lèi)型等手段后仍不 能使基線解算合格的情況下，可刪除該條基線（獨(dú)立基線除外，且刪除的基線條數(shù)不能大于總基線的 1/10）。若基線無(wú)法刪除，需重測(cè)。 處理不合格的閉合環(huán) 待基線解算合格后，點(diǎn)擊工具欄中的【閉合環(huán)列表】，檢查閉合環(huán)的閉合情況，閉合環(huán)列表界面下圖所示：
閉合差如果超限，需根據(jù)基線解算以及閉合差計(jì)算的具體情況，對(duì)一些基線進(jìn)行重新解算。具有多次觀測(cè)基線的情況下可以不使用或者刪除該基線。當(dāng)出現(xiàn)孤點(diǎn)（即該點(diǎn)僅有一條合格基線相連）的情況下，必須重測(cè)該基線或者閉合環(huán)。 |
